關于日本yokowods測試夾的技術檢測

　　日本yokowods測試夾新型涉及電測試儀用的測試夾，包括殼體、微動開關、測試電極等，其特點是二內空的條狀殼體的前端分別設有向外伸出的電極，其中一殼體內設微動開關，它們的電源線穿過殼體內腔從其后端引出，殼體后端相互活動鉸接，二殼體相對面前部附近設有一彈性回復機構使其前部可相互靠近或分開，微動開關的按鈕伸出于一殼體內壁之外，與之對應在另一殼體內壁上設有頂桿。
數字IC芯片在線/離線功能測試
⑴[測試過程]
測試儀對被測數字IC芯片施加相應的測試代碼，再從被測器件取回實際響應。通過將實際響應和預期響應進行對比，可發現功能失效的故障器件。
⑵日本yokowods測試夾[在線測試]
使用測試夾卡住電路板上的被測IC芯片，依照器件在電路板上的實際自身連接關系自動生成測試代碼，直觀顯示"自身連接"和"功能好壞"等測試信息，以及每一輸出管腳所對應的"測試代碼、實際響應和預期代碼"，測試高效，便于全面分析。
⑶[離線測試]
使用離線測試盒對單個數字IC芯片進行功能測試，由于沒有在線因素的影響，故而測試結果最為準確